3月20日，备受瞩目的慕尼黑上海光博会在上海新国际博览中心开幕，晶飞科技凭借其在光谱仪领域雄厚的产品技术实力及卓越的市场表现受邀参展。
本次展会，晶飞科技立足高智能、高品质的产业基础，重点推出“膜厚仪测试”、“拉曼测试”、“反射率测试”、“吸光度测试”、“透过率测试”五大解决方案，吸引了大批行业专家和观众的驻足与关注。参展同事积极为来访人员答疑解惑，向他们详细介绍晶飞科技品牌的历史延革、产品的市场优势及应用背景、解决方案的专业性和广泛的应用场景，得到了专家和观众的一致认可。
后续，晶飞科技将进一步深耕光谱仪行业数字化、智能化，致力于成为领先的光谱仪智能整体解决方案的提供者，为国家的国产化事业不断献智献策。热烈欢迎行业专家及客户参观指导工作。
